閎康科技股份有限公司 > 掃描式電子顯微鏡(SEM) 材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄式電子顯微鏡,Scanning Electron Microscope,成份分析,EDX,EDS,電子能量損失分析儀,EELS,掃描穿透式電子顯微鏡分析 ,掃瞄電鏡 ...
掃描電子顯微鏡 - 維基百科，自由的百科全書 掃描電子顯微鏡 （ scanning electron microscope ），簡稱 掃描電鏡 （ SEM ）。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的 電子顯微鏡 。它能產生樣品表面的高解析度圖像，且圖像呈三維，掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表面結構。 掃描 ...
儀器設備 I-line光學步進曝光機(I-line Stepper) 其它 1 光阻塗佈機 (Photo Resist Spinner) 2 真空烤箱 (Vacuum Oven)(甲、乙兩台) 3 光學顯微鏡(Optical Microscope) 4 紫外光臭氧去光阻機(UV Ozone Dry Stripper ...
SEM實務性的應用 中介與干擾效果的驗證 SEM實務性的應用-中介與干擾效果的驗證 張偉豪 SPSS宏德國際諮詢資深顧問 成大企管 ... 2 參考文獻 1. Sharma Subhash, Richard M. Durand; OdedGur-Arie(1981). “Identification and ...
場發射型掃描式電子顯微鏡 - 中山貴重及共用儀器中心 場發射型 掃描式電子顯微鏡 最近修改日期:2011.09.23 掃描式電子顯微鏡其成像 原理是利用一束具有 5 ～ 30 kV 之電子束 ...
場發射掃描式電子顯微鏡分析技術應用簡介 - 材料世界網 近來場發射掃描式電子顯微鏡技術向上研發，已能將影像解析度提升到1 個奈. 米， 而且不同分析功能的偵檢 ...
高解析場發射掃描式電子顯微鏡 - 國立成功大學 本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜分析儀(EDS)所組成。
場發射掃描式電子顯微鏡 冷場發射掃描式電子顯微鏡Field Emission Scanning Electron Microscopy(FE- SEM). 聯絡方式. 設備特性( ...
中心公告 - NCKU, 成功大學-儀器設備中心 NCKU, 成功大學-儀器設備中心 ... 儀器設備中心文宣 中心簡介 中心任務 設置辦法 中心位置 中心主任 儀器分析組(國科會貴重儀器使用中心)
閎康科技股份有限公司 - Materials Analysis Technology Inc. 材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄式電子顯微鏡,Scanning Electron Microscope,成份分析,EDX,EDS,電子能量損失分析儀,EELS,掃描穿透 ...
