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掃描式電子顯微鏡英文知識摘要

(共計:20)
  • 掃描電子顯微鏡 - 維基百科,自由的百科全書
    掃描電子顯微鏡 ( scanning electron microscope ),簡稱 掃描電鏡 ( SEM )。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的 電子顯微鏡 。它能產生樣品表面的高解析度圖像,且圖像呈三維,掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表面結構。 掃描 ...

  • 攝影機 / Sony 工業用CCD Camera / 工廠自動化用攝影機 / 非交錯式掃描攝影機 / 數位攝影機 / 顯微鏡用攝影機 ...
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  • TecLin Corp., Ltd. : Technology Value Linking全自動光阻塗佈/顯影機 | TecLin Corp., Ltd. :: Technology Value Li
    Teclin Co., Ltd. 穎強科技股份有限公司 ... 廠牌:SVS MSX1000 是針對光電、半導體製程所設計的模組化塗佈系統,適合於2”~6”的晶片,並可應用在ASICS、LED、OLED、MEMS 等製程,並可以因應不同光阻塗佈及顯影製程提供不同設計,在馬達轉速及加速,烤 ...

  • 宜特科技 | 掃描式電子顯微鏡 (SEM)
    宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 結構觀察 - ...

  • 場發射槍掃描式電子顯微鏡(FEGSEM) - 清華大學貴重儀器使用中心
    儀器中文名稱:場發射槍掃描式電子顯微鏡(簡稱場發射電鏡) 儀器英文名稱:Field Emission Gun Scanning ...

  • 場發射掃瞄式電子顯微鏡 - 中原大學
    功能說明. 利用加負壓於金屬尖端上,以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子 束,在極高的真空中 ...

  • 場發射掃描式電子顯微鏡 - 國立交通大學研究發展處
    一、儀器名稱 *中文名稱: 場發射掃描式電子顯微鏡 *英文名稱:Field Emission Scanning Electron ...

  • 熱場發射式掃描電子顯微鏡 - 國立交通大學研究發展處
    儀器中文名稱:熱場發射掃描式電子顯微鏡(JSM – 6500F) 儀器英文名稱:Thermal Field Emission ...

  • 宜特科技 | 穿透式電子顯微鏡 (TEM)
    宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測,FIB,零件可靠度,系統可靠度,IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 結構觀察 - 穿透式電子顯微鏡 (TEM)

  • 穿透式及掃描式電子顯微鏡 - 清華大學貴重儀器使用中心
    儀器中文名稱:生物型穿透式及掃描式電子顯微鏡 ... 儀器英文簡稱:Bio-TEM/SEM ... 儀器購置年月:1987年7月(TEM)(2012年3月汰舊換新); 1989年9月(SEM) (2001 ...

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