掃描電子顯微鏡 - 維基百科，自由的百科全書 掃描電子顯微鏡 （ scanning electron microscope ），簡稱 掃描電鏡 （ SEM ）。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的 電子顯微鏡 。它能產生樣品表面的高解析度圖像，且圖像呈三維，掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表面結構。 掃描 ...
掃描式電子顯微鏡
穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM） 穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM） 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來，由於影像解析度受限於所供輸電子能量，隨著高壓設備 ...
場發射穿透式電子顯微鏡 以場發射200KV高能量電子穿透試片，具穿透及掃描功能，可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析材料內部之 ...
顯微鏡 電子顯微鏡 掃描式電子顯微鏡 SEM / 電子顯微鏡 EM / 桌上型 / 穿透式電子顯微鏡 TEM FIB_SEM LYRA 聚焦離子束掃描式電子顯微鏡 FIB_SEM LYRA 聚焦離子束掃描式電子顯微鏡 可變真空系統(高/低真空機型)
穿透式及掃描式電子顯微鏡 - 清華大學貴重儀器使用中心 儀器中文名稱：生物型穿透式及掃描式電子顯微鏡 ... 儀器英文簡稱：Bio-TEM/SEM ... 儀器購置年月：1987年7月(TEM)(2012年3月汰舊換新); 1989年9月(SEM) (2001 ...
穿透式電子顯微鏡 - 維基百科，自由的百科全書 聚焦透鏡用於將最初的電子束成型，物鏡用於將穿過樣品的電子束聚焦，使其穿過樣品（在 掃描穿透式電子顯微鏡 ...
國立交通大學研究發展處 一、 儀器簡介 廠牌：JEOL 型號：ARM200F 中文名稱：球面像差修正 掃描穿透式電子顯微鏡 英文名稱：Spherical ...
穿透式及掃描式電子顯微鏡 - 清華大學貴重儀器使用中心 生物型 穿透式 及 掃描式電子顯微鏡 Bio-TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE / SCANNING ELECTRON MICROSCOPE ...
解析型掃描穿透式電子顯微鏡 - 國立中山大學研究發展處 Office of Research and Development National Sun Yat-sen Un 解析型 掃描穿透式電子顯微鏡 解析型 掃描穿透式電子顯微鏡 適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料。以300KV高能量電子 ...
