電子顯微鏡 電子顯微鏡 EM 場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(ULTRA－HRTEM) Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM (Cs Corrected Field Emission TEM) 高分辨穿透式電子顯微鏡(HRTEM) HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, HRTEM
掃描電子顯微鏡 - 維基百科，自由的百科全書 掃描電子顯微鏡 （ scanning electron microscope ），簡稱 掃描電鏡 （ SEM ）。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的 電子顯微鏡 。它能產生樣品表面的高解析度圖像，且圖像呈三維，掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表面結構。 掃描 ...
場發射型掃描式電子顯微鏡 - 中山貴重及共用儀器中心 場發射型 掃描式電子顯微鏡 最近修改日期:2011.09.23 掃描式電子顯微鏡其成像 原理是利用一束具有 5 ～ 30 kV 之電子束 ...
場發射電子顯微鏡 - 清華大學貴重儀器使用中心 場發射電子顯微鏡 Field Emission Gun Scanning Electron Microscopy (預約 FEG-SEM 者，請詳讀本儀器簡介 及規定 (紅色部分)，以免違規) 儀器中文名稱：場發射槍掃描式電子顯微鏡（簡稱場發射電鏡） 儀器英文名稱：Field Emission Gun Scanning ...
場效發射式掃描電子顯微鏡(FE-SEM) 多功能場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM) Multi- functional Field-Emission Scanning Electron Microscope 一、設備基本資料： 功能簡介： 多功能場發射掃描式電子顯微鏡附加了能量分散X光譜儀(EDS)、陰極發光分析儀(CL)及電子背向散射繞射儀(EBSD)，主要應 ...
國立交通大學研究發展處 一、儀器名稱 ＊中文名稱： 場發射掃描式電子顯微鏡 ＊英文名稱：Field Emission Scanning Electron Microscope ＊英文簡稱：FE-SEM 二、儀器廠牌、型號、購置年限 廠牌： JEOL 型號：JSM-6700F 購置年限：2005年12月 三、重要規格
場發射掃描式電子顯微鏡 - 中興大學教職員工網頁 場發射掃描式電子顯微鏡 Field-emission scanning electron microscope 原 理、功 能 廠牌、規格&附件 服務項目 申請服務辦法 收 費標準 地點、聯絡人 預約時段查詢 場發射掃描式電子顯微鏡 Field-emission scanning electron microscope
場發射槍掃描式電子顯微鏡 (FEGSEM)Field Emission Gun Scanning Electron Microscopyope - 貴重儀器中心 請填寫網站簡述 ... 場發射電子顯微鏡 Field Emission Gun Scanning Electron Microscopy 儀器中文名稱：場發射槍掃描式電子顯微鏡（簡稱場發射電鏡）
場發射掃描式電子顯微鏡分析技術應用簡介 - 材料世界網 近來場發射掃描式電子顯微鏡技術向上研發，已能將影像解析度提升到1 個奈. 米， 而且不同分析功能的偵檢 ...
場發射型掃描式電子顯微鏡 掃描式電子顯微鏡其成像原理是利用一束具有5～30 kV之電子束掃描試片的表面， 接收表面產生之訊號( ...
