電子顯微鏡 電子顯微鏡 EM 場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(ULTRA－HRTEM) Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM (Cs Corrected Field Emission TEM) 高分辨穿透式電子顯微鏡(HRTEM) HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, HRTEM
閎康科技股份有限公司 > 掃描式電子顯微鏡(SEM) 材料分析,Material Analysis ,MA,TEM,穿透式電子顯微鏡,透射式電子顯微鏡,穿透電鏡,Trasmission Electron Microscope,電子顯微鏡,Electron Microscope,SEM,掃瞄式電子顯微鏡,Scanning Electron Microscope,成份分析,EDX,EDS,電子能量損失分析儀,EELS,掃描穿透式電子顯微鏡分析 ,掃瞄電鏡 ...
分析式穿透式電子顯微鏡(AEMEDS) ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE,AEM/EDS - 貴重儀器中心 請填寫網站簡述 ... 分析式穿透式電子顯微鏡 ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE 儀器中文名稱：分析式穿透式電子顯微鏡 儀器英文名稱：ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
場發射型掃描式電子顯微鏡 - 中山貴重及共用儀器中心 場發射型 掃描式電子顯微鏡 最近修改日期:2011.09.23 掃描式電子顯微鏡其成像 原理是利用一束具有 5 ～ 30 kV 之電子束 ...
場發射電子顯微鏡 - 清華大學貴重儀器使用中心 場發射電子顯微鏡 Field Emission Gun Scanning Electron Microscopy (預約 FEG-SEM 者，請詳讀本儀器簡介 及規定 (紅色部分)，以免違規) 儀器中文名稱：場發射槍掃描式電子顯微鏡（簡稱場發射電鏡） 儀器英文名稱：Field Emission Gun Scanning ...
場發射穿透式電子顯微鏡 以場發射200KV高能量電子穿透試片，具穿透及掃描功能，可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析材料內部之 ...
宜特科技 | 穿透式電子顯微鏡 (TEM) 宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測，FIB，零件可靠度，系統可靠度，IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 結構觀察 - 穿透式電子顯微鏡 (TEM)
穿透式電子顯微鏡之結構及其成像原理 照明系統. * 電子槍：發射電子束之電子源。 (1)鎢絲。 (2)LaB. 6. 絲。以上兩種電子源皆由熱游離發射(thermionic emission)原理產生電子；. (3)場發射槍((field emission ...
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(ULTRA－HRTEM) 儀器中文名稱：場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡 http://www.nscric.nthu.edu.tw/EM/ 儀器英文名稱：Spherical-aberration Corrected Field Emission ...
高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡教學影片- NCKU, 成功 ... ... 場發射掃描穿透式電子顯微鏡教學影片. 高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡(High-resolution Field-Emission Transmission Electron Microscopy;HR-TEM2100) ...
