新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測 ... - 材料世界網 188 工業材料雜誌214 期93 年10 月http://www.materialsnet.com.tw. 新世代場發射 穿透式電子顯. 微鏡應用在工研院奈米 ...
::: 國立中央大學 - 研究發展處 ::: 1. TEM十繞射：3,000/時段 ( 操作以三小時為一時段計 ) 2. 持有執照：2,000元/時段( 操作以三小時為一時段計 ) 3. EDS+Mapping+Linescan：1,500元/時段( 操作以三小時為一時段計 ) 4. 持有執照： 500元/時段( 操作以三小時為一時段計 )
TEM 穿透式電子顯微鏡 / 桌上型場發射TEM/ TEM /DELONG TEM LVEM5 LVEM5 桌上型 / 穿透式電子顯微鏡是 DELONG USA INC 新近推出的，主要客戶集中於高階生命科學 / 材料科學研究機構，包括大學生命 ... TEM 、 ED 、 STEM 、 SEM 、電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、穿透式電子顯微鏡、掃瞄式穿隧電子顯微鏡、 stem cell ...
場發射穿透式電子顯微鏡 - 中山貴重及共用儀器中心 場發射穿透式電子顯微鏡 適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料、生醫材料、高分子材料等。以場發射 200KV 高能量電子穿透試片，具穿透及掃描功能，可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析材料內部之微細組織、缺陷及晶體結構。
場發射穿透式電子顯微鏡 « 校內貴重儀器 « 國立中興大學研發處 場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM)主要規格 1.場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM) ‧加速電壓：200KV ‧放大倍率：X 50 to 1500K ‧解像度：Point Resoltion：≦0.23nm；Lattice Resoltion：≦0.1nm ‧聚焦束繞射(CBED)：Convergent Angle：1.5~20 mrad
場發射穿透式電子顯微鏡簡介 - 材料世界網 材料發展進入奈米世界，場發射穿透式電子顯微鏡成為奈米材料分析之利器，原子級高解析 ... 定，另加裝掃瞄系統，可為掃瞄穿透式電子顯微鏡，使其功能更臻完備。
貴重儀器使用中心 - 國立中央大學 ... 雜訊量測系統, ‧單晶X光繞射儀. ‧(低掠角/穿透式)小角度X光散射儀, ‧低真空掃描式電子顯微鏡. ‧超高真空場發射掃描式電子顯微鏡, ‧雙束型場發射聚焦離子束顯微鏡.
200kV場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai G2 F20) - 國立 ... 200kV場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai G2 F20) ... 可進行材料試樣微區影像分析，包含收集高解析影像、明視野像、暗視野像、電子繞射圖樣以及EDX微區定性/ ...
場發射式掃瞄式電子顯微鏡簡介 關鍵詞：場發射式掃瞄式電子顯微鏡、 FESEM 、材料微結構分析. SEM 之發展與工作原理. 電子顯微鏡的發展，最早在1931 年首. 先發展穿透式電子顯微鏡(TEM;.
