穿透式電子顯微鏡 « 校內貴重儀器 « 國立中興大學研發處 穿透式電子顯微鏡(TEM) 主要規格 1.穿透式電子顯微鏡 ‧加速電壓:40-120KV ‧放大倍率：50-800000 ‧試片傾斜角度≧25 2.數位影像處理系統 (CCD) ‧CCD畫素:4008x2672 ‧CCD影像輸出：全影或局部 ‧畫面速率：13fps/0.25fps
高解析質譜儀 HIGH RESOLUTION MASS SPECTROMETER - 貴重儀器中心 請填寫網站簡述 ... 高 解析 質 譜儀 HIGH RESOLUTION MASS SPECTROMETER 儀器中文名稱：高 解析 質譜儀 儀器英文名稱：MAT-95XL HIGH RESOLUTION MASS SPECTROMETER
穿透式及掃描式電子顯微鏡 - 清華大學貴重儀器使用中心 儀器中文名稱：生物型穿透式及掃描式電子顯微鏡 ... 儀器英文簡稱：Bio-TEM/SEM ... 儀器購置年月：1987年7月(TEM)(2012年3月汰舊換新); 1989年9月(SEM) (2001 ...
國立交通大學研究發展處 一、 儀器簡介 廠牌：JEOL 型號：ARM200F 中文名稱：球面像差修正 掃描穿透式電子顯微鏡 英文名稱：Spherical ...
球面像差修正掃描穿透式電子顯微鏡 - 國立交通大學研究發展處 中文名稱：球面像差修正掃描穿透式電子顯微鏡 英文名稱：Spherical Aberration Corrected Scanning Transmission Electron Microscope 英文簡稱：Cs-corrected ...
中心公告 - NCKU, 成功大學-儀器設備中心 NCKU, 成功大學-儀器設備中心 ... 儀器設備中心文宣 中心簡介 中心任務 設置辦法 中心位置 中心主任 儀器分析組(國科會貴重儀器使用中心)
掃瞄電子顯微鏡 - 臺灣大學高分子研究所 一、場發射電子顯微鏡. 1. 英文名稱：JOEL JSM-6700F Field Emission Scanning Electron Microscope. 2. 中文名稱：JOEL JSM-6700F場發射掃描式電子顯微鏡. 3.
::: 國立中央大學 - 研究發展處 ::: 1. TEM十繞射：3,000/時段 ( 操作以三小時為一時段計 ) 2. 持有執照：2,000元/時段( 操作以三小時為一時段計 ) 3. EDS+Mapping+Linescan：1,500元/時段( 操作以三小時為一時段計 ) 4. 持有執照： 500元/時段( 操作以三小時為一時段計 )
場發射穿透式電子顯微鏡 - 中山貴重及共用儀器中心 場發射穿透式電子顯微鏡 適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料、生醫材料、高分子材料等。以場發射 200KV 高能量電子穿透試片，具穿透及掃描功能，可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析材料內部之微細組織、缺陷及晶體結構。
功能穿透式電子顯微鏡 您是TEM第 參觀者 自2010年4月30日起 JEOL JEM-1400，穿透式電子顯微鏡，購於民國 96 年。主體： Resolution : 0.36nm，真空度 pa，適合多樣化的試片觀察， 可利用 OBJ aperture 觀察明場像或暗場像。Cryo-Transfer System ：溫度＜-170 ，Hold time ...
