穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM) 穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM) 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來,由於影像解析度受限於所供輸電子能量,隨著高壓設備 ...
國立清華大學化學工程系 清大化工 系暨研究所於西元一九七二年奉准成立,原名為工業化學系。一九七八年清華大學奉准成立高分子研究所,一九八0年本系、所由原名工業化學系改名為化學工程系,並且於一九八三年與高分子研究所合併。本系現有專任教授二十五人,大學部 ...
掃描穿隧式顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope,STM)原理 掃描穿隧式顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope,STM)原理 國立臺灣師範大學物理系曾鈺潔碩士生/國立臺灣師範大學物理系蔡志申教授責任編輯 掃描穿隧式顯微鏡(STM)是利用量子穿隧效應(quantum tunneling effect)探測晶體表面原子結構的儀器。
清華大學物理系-本系師資-果尚志教授 全部著作 (Click 展開/隱藏) A. Refereed Papers: S. Gwo, A. R. Smith, C. K. Shih, K. Sadra, B. G. Streetman, "Scanning tunneling microscopy of GaAs multiple pn-junctions," Appl. Phys. Lett. Vol. 61, 1104-1106 (1992). S. Gwo, K. J. Chao, C. K ...
扫描隧道显微镜- 维基百科,自由的百科全书 有機半導體喹吖啶酮的超分子鏈在石墨上自行組裝的掃描式穿隧電子顯微鏡影像。 用掃描式穿隧電子顯微鏡測量得到的量子 ...
量子穿隧效應 - 維基百科,自由的百科全書 在量子力學裏,量子穿隧效應為一種量子特性,是如電子等微觀粒子能夠穿過它們本來無法通過的「牆壁」的現象。這是因為根據量子力學,微觀粒子具有波的性質,而有不為零的機率穿過位勢障壁。 量子穿隧效應 (Quantum tunnelling effect),是一種衰減 ...
閎康科技股份有限公司 > EMMI - Materials Analysis Technology Inc. 電性量測,Electrical Measurement,故障分析,失效分析,Failure Analysis,FA,Fault Isolation,Root cause identification,電性故障分析,Electrical Failure Analysis,EFA, I-V, I-V Measurement ,Emission Microscope ,EMMI,InGaAs Camera,InGaAs Detector ,InGaAs,Optical ...
TEM 穿透式電子顯微鏡 / 桌上型場發射TEM/ TEM /DELONG TEM LVEM5 LVEM5 桌上型 / 穿透式電子顯微鏡是 DELONG USA INC 新近推出的,主要客戶集中於高階生命科學 / 材料科學研究機構,包括大學生命 ... TEM 、 ED 、 STEM 、 SEM 、電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、穿透式電子顯微鏡、掃瞄式穿隧電子顯微鏡、 stem cell ...
AFM-原子力顯微鏡基本原理 第 2 章 原子力顯微鏡基本原理 (Atomic Force Microscpoic : AFM) AFM 簡介 奈米技術 (Nanotechnology) 是指在奈米尺度 (1nm 到 10nm 之間) 上研究物質 (包括原子及分子的操縱) 的特性和相互作用,目標是利用原子、分子及物質在奈米尺度上所表現出來的物理 ...
現代科技與生活 IV. 認識奈米科技 4 4. 高解析度穿透式電子顯微鏡(High Resolution TEM, HRTEM) 使用六硼化鑭(LaB 6)或奈米碳管(CNT)製成100 nm針尖,發射10 nm 寬電子束,穿過試體薄膜,散射後以contrast transfer function (CTF)紀錄成 序列影像,再反算CTF-1組合成像,可觀察1 nm的 ...