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掃描穿隧式電子顯微鏡知識摘要

(共計:19)
  • 穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM)
    穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM) 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來,由於影像解析度受限於所供輸電子能量,隨著高壓設備 ...

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    掃描穿隧式顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope,STM)原理 國立臺灣師範大學物理系曾鈺潔碩士生/國立臺灣師範大學物理系蔡志申教授責任編輯 掃描穿隧式顯微鏡(STM)是利用量子穿隧效應(quantum tunneling effect)探測晶體表面原子結構的儀器。

  • 清華大學物理系-本系師資-果尚志教授
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  • 量子穿隧效應 - 維基百科,自由的百科全書
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  • 閎康科技股份有限公司 > EMMI - Materials Analysis Technology Inc.
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  • TEM 穿透式電子顯微鏡 / 桌上型場發射TEM/ TEM /DELONG TEM LVEM5
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  • AFM-原子力顯微鏡基本原理
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  • 現代科技與生活 IV. 認識奈米科技
    4 4. 高解析度穿透式電子顯微鏡(High Resolution TEM, HRTEM) 使用六硼化鑭(LaB 6)或奈米碳管(CNT)製成100 nm針尖,發射10 nm 寬電子束,穿過試體薄膜,散射後以contrast transfer function (CTF)紀錄成 序列影像,再反算CTF-1組合成像,可觀察1 nm的 ...

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