掃描電子顯微鏡(SEM)JSM-6390 SEM掃描電子顯微鏡 JSM-6390系列 JSM-6390是一款高性能低價格的掃描電子顯微鏡，解析度可達3.0nm。可按用戶要求定做的操作介面便於用戶直觀操作儀器。Smile Shot 軟體保證得到最佳電子光學參數。
閎康科技股份有限公司 > 光學顯微鏡(OM) 物性故障分析,Structure analysis,Physical Faliure Analysis,PFA,非破壞性分析,Non-destructive Analysis,location,光學顯微鏡,Optical Microscope ,OM,X光,X-ray,超音波掃瞄,SAT ,白光干涉儀,Optical Profiler,OP,SAM,Scanning Acoustic Microscope,Scanning Acoustic Tomography,A-scan,B-scan,C-scan,
半導體科技.先進封裝與測試雜誌 - 掃描探針顯微鏡之發展 - Semicondutor Magazine 劉有台 / 工研院化學工業研究所 掃描探針顯微鏡技術(Scanning Porbe Microscopy，SPM)具有可分析微米結構以下之能力，其解析能力可到原子、奈米及分子尺寸上。掃描穿隧顯微鏡原理是利用電子穿隧的效應(tunneling effect)來得影像，樣品須要有導電性。原子力 ...
場發射型掃描式電子顯微鏡 - 中山貴重及共用儀器中心 場發射型 掃描式電子顯微鏡 最近修改日期:2011.09.23 掃描式電子顯微鏡其成像 原理是利用一束具有 5 ～ 30 kV 之電子束 ...
扫描电子显微镜- 维基百科，自由的百科全书 ... electron microscope），简称扫描电镜（SEM）。是一种利用电子束扫描样品表面从而获得样品信息的电子显微镜。它能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，扫描电子显微镜能被用来鉴定样品的表面结构。 .... 參見[编辑]. 穿透式電子顯微鏡 ...
場發射型掃描式電子顯微鏡 掃描式電子顯微鏡其成像原理是利用一束具有5～30 kV之電子束掃描試片的表面， 接收表面產生之訊號( ...
場發射掃描式電子顯微鏡 冷場發射掃描式電子顯微鏡Field Emission Scanning Electron Microscopy(FE- SEM). 聯絡方式. 設備特性( ...
第㆔章 - 台灣大學化學系 掃描式電子顯微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)(STM/AFM) ... 微鏡(SEM)、X光微區分析(EDS)、掃描探針顯微術(STM/AFM)的基本原理及應用 許明祺(25%) 高基迪(25%) 蔡嘉慶(25%) 林姿伶(25%) 33--1. 掃描式電子顯微鏡
穿透式電子顯微鏡TEM 穿透式電子顯微鏡TEM 張銀祐 2006/12 2 定義 電子顯微鏡,一般是指利用電磁場偏折、聚 焦電子及電子與物質作用所產生散射之原 理來研究物質構造及微細結構的精密儀 ...
宜特科技 | 穿透式電子顯微鏡 (TEM) 宜特科技-分析、檢測與可靠度、主要業務在提供IC檢測，FIB，零件可靠度，系統可靠度，IC壽命測試等服務。 - 材料分析 - 結構觀察 - 穿透式電子顯微鏡 (TEM)
