場發射掃描式電子顯微鏡 - 義守大學 FE-SEM 場發射掃描式電子顯微鏡. 機型:Hitachi-4700,EDS機型:HORIBA. Ⅰ. 0.5 ~30KV. Ⅱ. 電子光源:冷場發射電子槍. Ⅲ. 放大倍率:X 10 ~ X 500k. Ⅳ. 高解像能 ...
場發射掃描式電子顯微鏡 - 國立交通大學研究發展處 一、儀器名稱 *中文名稱: 場發射掃描式電子顯微鏡 *英文名稱:Field ... 通過JSM- 6700F冷場發射型考核者,自考核通過當日算起,使用者需於三個月內自行上機 ...
場發射穿透式電子顯微鏡 « 校內貴重儀器 « 國立中興大學研發處 場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM)主要規格 1.場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM) ‧加速電壓:200KV ‧放大倍率:X 50 to 1500K ‧解像度:Point Resoltion:≦0.23nm;Lattice Resoltion:≦0.1nm ‧聚焦束繞射(CBED):Convergent Angle:1.5~20 mrad
場發射穿透式電子顯微鏡簡介 - 材料世界網 材料發展進入奈米世界,場發射穿透式電子顯微鏡成為奈米材料分析之利器,原子級高解析 ... 定,另加裝掃瞄系統,可為掃瞄穿透式電子顯微鏡,使其功能更臻完備。
場發射掃描電子顯微鏡(農資院) « 校內貴重儀器 « 國立中興大學研發處 儀器代碼 FE-SEM 中文名稱 場發射掃描電子顯微鏡(農資院) 英文名稱 Field Emission Scanning Electron Microscope 儀器經費來源 國科會 購入日期 2006/12/14 儀器位置 農環大樓 五樓(5C11) (地圖) 儀器狀態 正常使用中
熱場發射式掃描電子顯微鏡 - 國立交通大學研究發展處 儀器中文名稱:熱場發射掃描式電子顯微鏡(JSM – 6500F) 儀器英文名稱:Thermal Field Emission Scanning Electron ...
場發射掃瞄式電子顯微鏡 - 中原大學 利用加負壓於金屬尖端上,以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子束,在極高 的真空中操作(-10~10torr)可得到高品質 ...
場發射低溫穿透式電子顯微鏡 (JEM-2100F Transmission Electron Microscope) - NCKU, 成功大學-儀器設備中心 JEM-2100F Transmission Electron Microscope 場發射 低溫穿透式 電子顯微鏡 壹 儀器設備說明 (規格): 儀器安裝年份:2013年 ...
場發射穿透式電子顯微鏡簡介 - 材料世界網 90 工業材料雜誌 201期 92年9 月 http://www.materialsnet.com.tw 檢測技術在奈米科技之應用專題 場發射穿透式 ...
Field emission microscopy - Wikipedia, the free encyclopedia Field emission microscopy (FEM) is an analytical technique used in materials science to investigate molecular surface structures and their electronic properties .