掃描近場光學顯微鏡snom&afm-witec - 光譜儀分析(螢光/拉曼/IR/光纖) - 先鋒科技 近場光學顯微鏡,拉曼顯微鏡,螢光顯微鏡,原子力顯微鏡,掃描近場光學顯微鏡,掃描式近場光學顯微鏡,witec,snom,Afm,拉曼光譜儀,Alpha300S,alpha500 ... 德國Witec近場光顯顯微鏡 以Zeiss顯微鏡為基礎，近場雷射光路為正置共焦顯微鏡加特殊設計的近場物鏡頭， 採用 ...
近場光學顯微鏡(SNOM)
掃描式近場光學顯微鏡 掃描式近場 光學顯微鏡 一 般的光學顯微鏡及電子顯微鏡 屬於遠場分析，因受到光波的繞射限制，其解析度僅有數百奈米左右。但若在近場觀測時，可避免繞射及干涉的產生，故能克服 繞射限 制，將解析度提升至數十奈米左右。
AFM-近場光學顯微鏡 第 9 章 近場光學顯微鏡 (SNOM) 1. 原理 使用由熔拉或腐蝕光纖波導所製成之探針，在外表鍍上金屬薄膜已形成末端具有 15nm 至 100nm 直徑尺寸之光學孔徑 (optical aperture) 的近場光學探針，再以可作精密位移與掃描探測之壓電陶瓷材料 (piezo-electrcal ceramics) 配合 ...
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NFI Lab-NIL 近場光學顯微鏡(SNOM) 目前正在測試近場光學系統。近場光學顯微術的空間解析度接近於電子顯微鏡的高解析度，並兼具傳統光學顯微鏡的優點，屬於非破壞性方法，可量測到真實表面空間，樣品不需繁複製備手續，也不需在真空環境中進行檢驗，而可在 ...
近場光學顯微儀 負責人 林宇軒先生 03-5779911 分機 606 儀器中文名稱 近場光學顯微儀 儀器英文名稱 Near Field Optical Microscope 儀器英文簡稱 NSOM 儀器廠牌 DI Corporation 儀器型號 Multimode AFM 採購日期 86 年 3 月 28 日 儀器簡介 建置在本中心之近場光學顯微儀，乃改裝於商用型掃描 ...
近場光學顯微鏡Afm&Snom 先鋒科技專業光電量測儀器代理,產品有光譜儀,雷射加工,太陽光模擬器,太陽能電池檢測,光譜式橢圓偏光儀,科研等級CCD,近場光學顯微鏡,光纖雷射,螢光光譜儀,拉曼光譜儀,NIR近紅外光譜儀,特殊雷射氣體,CCD,輝度/色度計,光譜式LED參數量測儀,LED light bar檢測 ...
材料世界網 - 文章內容 奈米光學檢測–高解析度近場光學顯微鏡的應用 2010/7/16 [ 友 善 列 印 | 推 薦 好 友 ] 1986年掃描近場光學顯微鏡(Scanning Near-field Optical Microscopy; SNOM)的發明是第一次利用近場光學技術來突破光學繞射極限，發展至今已有20餘年的歷史，已應用在資料儲存 ...
設備名稱 設備名稱 Equipment 近場掃描式光學顯微鏡 Near-filed scanning optical microscopy 設備廠商 / 型號 Vendor/Type Veeco Instruments Inc./Aurora-3 功能 以高解析度的掃描式探針顯微術 (Scanning Probe Microscopy，SPM) 術的近場掃描式光學顯微鏡 (Near-Field Scanning Optical Microscope, NSOM) Aurora-3 ...
