場發射掃描式電子顯微鏡分析技術應用簡介 - 材料世界網 近來場發射掃描式電子顯微鏡技術向上研發，已能將影像解析度提升到1 個奈. 米， 而且不同分析功能的偵檢 ...
場發射型掃描式電子顯微鏡 掃描式電子顯微鏡其成像原理是利用一束具有5～30 kV之電子束掃描試片的表面， 接收表面產生之訊號( ...
場發射穿透式電子顯微鏡 以場發射200KV高能量電子穿透試片，具穿透及掃描功能，可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析材料內部之 ...
場發射槍掃描式電子顯微鏡(FEGSEM) - 清華大學貴重儀器使用中心 儀器中文名稱：場發射槍掃描式電子顯微鏡（簡稱場發射電鏡） 儀器英文名稱：Field Emission Gun Scanning ...
場發射掃描式電子顯微鏡 - 義守大學 FE-SEM 場發射掃描式電子顯微鏡. 機型：Hitachi-4700，EDS機型：HORIBA. Ⅰ. 0.5 ~30KV. Ⅱ. 電子光源： ...
場發射掃瞄式電子顯微鏡 - 中原大學 功能說明. 利用加負壓於金屬尖端上，以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子 束，在極高的真空中 ...
高解析場發射掃描式電子顯微鏡 - 國立成功大學 本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜分析儀(EDS)所組成。
場發射掃描式電子顯微鏡 - 國立交通大學研究發展處 一、儀器名稱 ＊中文名稱： 場發射掃描式電子顯微鏡 ＊英文名稱：Field Emission Scanning Electron ...
熱場發射式掃描電子顯微鏡 - 國立交通大學研究發展處 儀器中文名稱：熱場發射掃描式電子顯微鏡(JSM – 6500F) 儀器英文名稱：Thermal Field Emission ...
場發射掃描式電子顯微鏡 冷場發射掃描式電子顯微鏡Field Emission Scanning Electron Microscopy(FE- SEM). 聯絡方式. 設備特性( ...
