場發射槍掃描式電子顯微鏡(FEGSEM) - 清華大學貴重儀器使用中心 儀器中文名稱：場發射槍掃描式電子顯微鏡（簡稱場發射電鏡） 儀器英文名稱：Field Emission Gun Scanning ...
高解析場發射掃描式電子顯微鏡 - 國立成功大學 本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜分析儀(EDS)所組成。
Scanning electron microscope - Wikipedia, the free ... These pollen grains taken on an SEM show the characteristic depth of field of SEM ..... The spatial resolution of the SEM depends on the size of the electron spot, ...
場發射掃描式電子顯微鏡 - 義守大學 FE-SEM 場發射掃描式電子顯微鏡. 機型：Hitachi-4700，EDS機型：HORIBA. Ⅰ. 0.5 ~30KV. Ⅱ. 電子光源：冷場發射電子槍. Ⅲ. 放大倍率：X 10 ~ X 500k. Ⅳ. 高解像能 ...
場發射掃描式電子顯微鏡 - 國立交通大學研究發展處 一、儀器名稱 ＊中文名稱： 場發射掃描式電子顯微鏡 ＊英文名稱：Field ... 通過JSM- 6700F冷場發射型考核者，自考核通過當日算起，使用者需於三個月內自行上機 ...
FESEM Field Emission Scanning Electron Microscopy Principle of Operation. A field-emission cathode in the electron gun of a scanning electronmicroscope provides narrower probing beams at low as well as high ...
場發射掃描電子顯微鏡(農資院) « 校內貴重儀器 « 國立中興大學研發處 儀器代碼 FE-SEM 中文名稱 場發射掃描電子顯微鏡(農資院) 英文名稱 Field Emission Scanning Electron Microscope 儀器經費來源 國科會 購入日期 2006/12/14 儀器位置 農環大樓 五樓(5C11) (地圖) 儀器狀態 正常使用中
場發射掃描式電子顯微鏡(UltraPlus) « 校內貴重儀器 « 國立中興大學研發處 本儀器為德國蔡司(Zeiss) UltraPlus系列之場發射掃描式電子顯微鏡，適用觀察於以下樣品： 導體樣品 各式金屬/半導體/奈米碳管或奈米材料 非導體樣品(含生物性樣品) 各類有機材料/紡織品/生物樣品 不提供測量
熱場發射式掃描電子顯微鏡 - 國立交通大學研究發展處 儀器中文名稱：熱場發射掃描式電子顯微鏡(JSM – 6500F) 儀器英文名稱：Thermal Field Emission Scanning Electron ...
場發射掃瞄式電子顯微鏡 - 中原大學 利用加負壓於金屬尖端上，以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子束，在極高 的真空中操作(-10~10torr)可得到高品質 ...
