台灣喜餅禮盒之包裝設計研究-以郭元益為例__臺灣博碩士 ... 本研究首先蒐集喜餅禮盒相關之書籍、資料，以及瞭解喜餅來源、涵意及特色。次之觀察市面喜餅業的喜餅禮盒其視覺設計及包裝的風格並進行分析及探討。最後依研究 ...
晶圓測試探針卡 - 教育部區域產學中心國立台北科技大學電子報 目前市面上傳統探針卡已面臨測試極限，由於傳統懸臂式探針卡(cantilever probe card) 無法在單位面積中增加更多的探針，無法滿足高積集度的測試，因此將會被 ...
半導體測試簡介 半導體IC測試基本名詞介紹. • Probe Card:針測板. • Socket:IC測試時承載之基座. • Bin:IC分類之稱呼. • Change Kit:變異製具. • Lead Scan:掃腳機. • Ball Scan:掃球機.
檢視/開啟 - 國立中正大學 Probe card is a very important tool for wafer testing. ... Keywords: wafer testing; probe card; overdrive; contact resistance; finite element ... 2-2 探針卡之種類.
半導體科技新聞- IC測試之發展趨勢- Semicondutor News ... 薄膜針測卡(Membrane Probe Card)是採用薄膜技術(Thin Film technology)製成。 ... 上億元，如Advantest之5581型，Teradyne之J973EP型都是這種類型的Tester。
精研微科技股份有限公司 項目 MICRO CUBE PROBE CARD 1. 探針和 PATTERN 接觸角度 接觸過程保持垂直穩定，不易刮傷。 ...
凱思隆科技KeithLink-Test, Probing, Measurement Solutions-Prober, Probe Station, Micropositioner, Manipula 探針卡維修服務 Probe Card Maintenance Service [第1 頁] 共 1 筆 凱思隆科技股份有限公司 KeithLink Technology Co., Ltd. ...
Wafer Probe Test 經驗談（1） - Cp&Final Test - 半導體技術天地 晶片,集成電路,設計,版圖,製造,工藝,製程,封裝,測試 ... 對於 PROBE CARD好象都是自己做的吧，包括針都可以在用手在顯微鏡底下焊接，當然效果可能沒有專門做卡的公司好，不過折中成本的話，還是很值得的 我記得很多CP的部門都可以自己做卡，焊針哦。 ...
文化大學機構典藏 CCUR:Item 987654321/21510 使微探針失去了應有的強度，造成「跪針」；或因，針測過程的電熱效應，而發生「 燒針 ... Moreover, since ...
半導體科技.先進封裝與測試雜誌 - 測試技術新紀元 -- KGD Solution - Semicondutor Magazine and Apparatus for Multiple Known Good Die Processing)和垂直探針卡(Vertical Probe Card) 。 晶圓級測試 ...
