GoNav衛星協尋系統GT3100 讓愛與關懷不迷失 - DigiTimes ... 2008年10月23日 - 俞鴻樟／台北正翰集團推出GoNav衛星協尋系統GT3100，它由硬體製造商正翰科技，結合正華通訊平台服務，強調「愛與關懷」，提供更多即時行蹤 ...
勵威電子股份有限公司＜公司簡介及所有工作機會＞─104人力銀行 主要商品／服務項目 以製造半導體及LCD面板測試用配件，包括探針卡及 Logic&DRAM IC測試插座為主的勵威電子股分有限公司成立於2002年11月，總公司座落於新竹香山工業區，現在擁有新竹香山及大陸無錫兩處生産基地，同時在高雄設有維修中心。
CTIMES- 積體化探針卡技術介紹 :Probe card,測試系統與研發工具 Probe Card for IC Testing 探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此，是積體電路製造中對製造成本影響相當大的重要製程；此探針卡可使成品的良率由原來的70 ...
19.Probe Card Holder - 貝斯科技股份有限公司 probe card holder 探針卡治具 Probe card holder(配合probe station使用) 首頁 最新消息 商品介紹 1.Probe Station探針台(4吋6吋8吋12吋)) 2.Micropositioner探針座 3.Tip Holder針桿(Triaxial-Coaxial) 4.Triaxial(公 to ?) Cable Assembly ...
材料世界網:新型探針卡技術介紹 新型探針卡技術介紹 2004/8/20 [ 友 善 列 印 | 推 薦 好 友 ] 探針卡(Probe Card)應用在積體電路(IC)尚未封裝前，針對裸晶係以探針(Probe)做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。
博碩士論文 etd-0107111-213846 詳細資訊 論文 種類 碩士論文 論文語文別 中文 論文名稱(中) 探針接觸特性對於晶圓良率測試之研究 ... 第五章 PROBE CARD ...
半導體科技新聞 - IC測試之發展趨勢 - Semicondutor News, Science and Technology 最早期的(約10年前)有四至五家公司(都在美國)在研發薄膜針測卡(Membrane Probe Card)以便取代傳統的探針卡(Needle Probe Card) 。10幾年前那時是用來測剛剛研發成功之GaAs Technology IC Chip，因薄膜針測卡可測高頻之故。
旺矽科技股份有限公司＜公司簡介及所有工作機會＞─104人力銀行 公司介紹 產業類別： 半導體製造業 產業描述： H-0半導體相關業 員 工： 1000人 資 本 額： 7億1105萬元 聯 絡 人： 曾小姐 公司地址： 新竹縣竹北市中和街155號地圖
產學合作成果專刊 25. 微機電陣列式晶圓探針卡 圖6：陣列排列式之探針示意圖 圖7：微出平面結構應用於(a)探針卡與 (b)內連線之結構示意圖 圖8：爪狀式探針結構示意圖 圖9：傳統探針於凸塊電極接觸方式 圖10：爪狀探針於凸塊電極接觸方式 圖11：探針之製程流程圖
旺矽科技股份有限公司 南部分公司 路竹廠完工啟用 2007 高雄路竹二廠廠房落成啟用 2008 第五次取得經濟部工業局”新興重要策略性產業” ...
