晶圓測試探針卡 - 教育部區域產學中心國立台北科技大學電子報

目前市面上傳統探針卡已面臨測試極限，由於傳統懸臂式探針卡(cantilever probe card) 無法在單位面積中增加更多的探針，無法滿足高積集度的測試，因此將會被 ...

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