膜厚儀/橢偏儀/真空鍍膜/蝕刻 - 先鋒科技-紅外氣體偵測器,雷射護目鏡,手動微調平台,LED量測,太陽光模擬器,膜 ... 先鋒科技專業光電量測儀器代理,產品有光譜儀,雷射加工,太陽光模擬器,太陽能電池檢測,光譜式橢圓偏光儀,科研等級CCD,近場光學顯微鏡,光纖雷射,螢光光譜儀,拉曼光譜儀,NIR近紅外光譜儀,特殊雷射氣體,CCD,輝度/色度計,光譜式LED參數量測儀,LED light bar檢測 ...
薄膜測厚儀 NanoSpec 3000 使用手冊 南區微奈米中心編製 儀器功能介紹 1. 量測透明膜或半透明膜厚，期範圍為100Å～30μ 2. 反射光譜400nm～800nm 3. 膜厚量測資料分析 量測原理簡介 儀器設備 圖（一）設備圖說 操作順序
膜厚量測儀系列 - 橢圓偏光儀、反射式分光膜厚儀、膜厚量測儀、膜厚光譜分析儀系統、FPD用膜厚量測裝置 ... 操作簡易的中文化介面，是膜厚量測儀 產品陣容中性價比最高的機種。獨特的快速傅立葉轉換法，快速、準確的解析膜厚。低價格卻提供不妥協的性能與品質 。 膜厚量測範圍 20nm ~ 20μm ...
薄膜膜厚量測(Thin film) - 先鋒科技 波前感測儀/ 檢測儀 標準白板/漫反射&抗反射材料 代理廠牌 LED量測試機,流明,積分球,光譜 ... 先鋒科技為量測各類型薄膜厚度，代理了各種光學式非接觸式膜厚量測(Thin film measurement) ...
膜厚量測儀、PCB專用銅厚測式儀 - 台灣中澤 膜厚量測儀，牛津儀器 CMI700MRX系列銅膜厚測試儀為滿足印刷電路板行業銅厚測量與質量控制的需求而設計。CMI760可用于測量表面銅和貫穿孔內同厚度。-台灣中澤
反射式膜厚量測儀 FE-3000 - 光干涉式膜厚計、量測折射率、光學常數- 大塚科技股份有限公司 大塚首頁>產品目錄>反射式膜厚量測儀 FE-3000 非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。 高精度、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數（n:折射率、k:消光係數 ...
膜厚/厚度量測/橢圓測厚儀 產品, 科技, 技術, 研究, 膜厚/厚度量測/橢圓測厚儀 製造商, 供應商, 出口商, 製造廠 ... ACE-高科技產業B2B平臺，提供膜厚/厚度量測/橢圓測厚儀產品, 製造, 加工, 技術訊息及膜厚 ... 時代TT220涂層測厚儀採用了磁性測厚法，TT220覆層測厚儀是一種手持式超小型涂層'電鍍層量測儀，北京時代涂層測厚儀TT220它能快速、無損傷、精頦地進行鐵 ...
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膜厚量測、X射線螢光膜厚測量儀 - 台灣中澤 膜厚量測 英國牛津儀器OXFORD X 射線螢光膜厚測量儀系列 用於電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業。 900系列X射線螢光測厚儀 ...
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