反射式膜厚量測儀 FE-3000 - 光干涉式膜厚計、量測折射率、光學常數- 大塚科技股份有限公司

大塚首頁>產品目錄>反射式膜厚量測儀 FE-3000 非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。 高精度、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數（n:折射率、k:消光係數 ...

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