冷場發射掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀(FE-SEM) 冷場發射掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀(FE-SEM) 詳細資料. 簡稱, FESEM. 編號，依儀器, PISC019. 中文名稱, 冷場發射掃描式電子顯微鏡及能量散佈 ...
粒度分析檢測、粒度分析量測、微米/奈米粒度分析-北科大奈米中心 ... 界面電位分析儀，為產、研、學界在粉體材料研發、製程及品管上提供了最正確及快速的分析利器。 粒徑分析儀以最寬廣的測量範圍及最高精確度± 0.6% 、可適用高濃度 ppm~40wt% 等齊全機種。 ‧Mie 散射原理
粒徑量測、粒度分佈分析檢測委託試驗-雷射粒徑量測分析儀 ... 測量原理：動態量測. 粒子分佈：1~ 6000 nm. 測量時間：約2分鐘以內. 需求樣品量：約0.1 ~ 15 mL. 雷射光散射式粒徑分佈分析儀(μm). 測量粒徑範圍0.01~3000μm
奈米粒子粒徑及粒徑分布之量測方式 2012年1月10日 - 美國國家標準技術研究所(NIST)為單一粒徑分布的粒子製作了一些標準 ... 奈米粒子分選器就是所謂的差分移動性分析儀DMA，其動作原理如下述， ...
科技部- 科技大觀園＞文章＞科普知識＞觀微知著的「粒徑分析」 它的原理簡單、操作容易，不僅能測定粒子的大小，還可以分析粒徑的分布情形。 ... 避免前述各種量測方法的缺點，德國在2003 年研發出新型的粒徑分析儀。它利用 ...
奈米粒徑分析儀 - 富鑫奈米科技股份有限公司JUST NANOTEH 產品服務, Nanotrac wave 粒徑、界面電位及分子量分析儀, 首頁> 產品服務> 奈米粒 徑分析儀 ... 測量原理, 粒徑測量：動態光背散射技術和全量程米氏理論處理
* 富智科技股份有限公司 產品介紹 型號: 90 plus 動態光散射奈米粒徑分析儀 粒徑範圍: 0.001~6 μ m 型號: Zeta PALS 光散射介面電位分析儀、粒徑範圍: 0.005~30 μ m‧ (適用 於高介電常數液體、高鹽度溶液及近等電位液體)
粒徑 - DKSH 台灣 產品描述 Spraytec 為高濃度噴霧液滴及氣膠微粒粒徑量測設計之即時監控設備, Spraytec是使用符合ISO13320之雷射光繞射原理量測0.1–2000 microns微米粒徑,並具備各級防塵,防水,防爆等嚴苛操作環境需求,提供您產品研發,品質管理及更進一步的成為您系統最適化 ...
德芮克國際股份有限公司 拉力機、Malvern、Zetasizer Nano Series、奈米粒徑分析儀、動態光散射PCS、界面電位分析儀、 Mastersizer系列、雷射繞射粒徑分析儀、CGS3、Bohlin 系列、 Goniometer、雷射多角度光散射儀、黏度計、流變儀系列、 Wyatt Technology、DAWN 線上準分子量量 ...
奈米粒徑分析儀 - PMI & Chia Yun Instrument 奈米粒徑分析儀 應用範圍: 奈米粒子,Polymer,蛋白質分子,細菌...等等 測試方式: 動態雷射光散射或動態與靜態雷 ...
