德芮克國際股份有限公司 FT1 高精度摩擦係數儀 產品描述：FT1是英國Lloyd 儀器公司於2011年底推出的新一代摩擦係數儀。採桌上型、高精密滾珠螺桿控制的專業摩擦係數儀。符合ASTM D1894、ISO 8295和TAPPI T549等國際標準。用戶可依照試片實際摩擦係數值挑選不同的力量感測器 ...
粒度分析檢測、粒度分析量測、微米/奈米粒度分析-北科大奈米中心 ... 界面電位分析儀，為產、研、學界在粉體材料研發、製程及品管上提供了最正確及快速的分析利器。 粒徑分析儀以最寬廣的測量範圍及最高精確度± 0.6% 、可適用高濃度 ppm~40wt% 等齊全機種。 ‧Mie 散射原理
粒徑 - DKSH 台灣 Mastersizer 系列粒徑分析儀經過不斷的發展，能夠滿足工業和學術界用戶的需要。 ... Spraytec是使用符合ISO13320之雷射光繞射原理量測0.1–2000 microns微米粒徑,並具備各級防塵,防水,防爆等嚴苛操作環境需求,提供您產品研發, ...
雷射粒徑量測分析儀 - 國立臺北科技大學 測量原理：動態量測. 粒子分佈：1~ 6000 nm. 測量時間：約2分鐘以內. 需求樣品量：約0.1 ~ 15 mL. 雷射光散射式粒徑分佈分析儀(μm). 測量粒徑範圍0.01~3000μm
奈米粒子粒徑及粒徑分布之量測方式 2012年1月10日 - 美國國家標準技術研究所(NIST)為單一粒徑分布的粒子製作了一些標準 ... 奈米粒子分選器就是所謂的差分移動性分析儀DMA，其動作原理如下述， ...
雷射粒徑分析儀LA-960 Laser Particle Size Analyzer - 與HORIBA 其他LA系列粒徑分析儀相同，LA-960採用靜態光散射Mie原理，同時改良奈米粒徑範圍的測量精度與感度, 使得LA-960雷射粒徑分析儀俱備了業界採用可 ...
德芮克國際股份有限公司 拉力機、Malvern、Zetasizer Nano Series、奈米粒徑分析儀、動態光散射PCS、界面電位分析儀、 Mastersizer系列、雷射繞射粒徑分析儀、CGS3、Bohlin 系列、 Goniometer、雷射多角度光散射儀、黏度計、流變儀系列、 Wyatt Technology、DAWN 線上準分子量量 ...
元正儀器股份有限公司 人體 紅外線熱像儀 Fluke 粒徑分析 溫度 壓力 電量 校正 INSTECH INSTRUMENT CO., LTD. 第十二屆台北國際儀器展 2013年不容錯過的儀器界年度盛事『第十二屆台北國際儀器展』，元正儀器將於B區1228、1327攤位展示，歡迎各界先進蒞臨指教。 展覽地點：台北世界貿易展覽中心 展覽地址：台北市信義區信義路五段五號
磁滯曲線檢測、磁滯曲線量測、磁滯曲線分析-台北科大奈米中心 VSM 之量測技術，於 1959 年開始發展，主要用於巨觀磁特性的量測。一般藉由 VSM 來量測矯頑磁力(Hc)、殘磁厚度積(Mrt)、飽 和磁化量(Ms)、磁滯曲線之方形比(squareness)等性質。VSM 之配置 方式如圖 3-1 所示，將試片固定於測試棒之上，並將 ...
粉體特性/粒徑/影像/吸附分析/漿料分析評價專業/磐拓國際 磐拓公司累積多年粉粒體技術研究經驗，持續開發最新評價標準的各式分析儀及尖端材料，給您更超值的專業服務！ 磐拓公司累積二十年以上粉粒體技術研究之經驗，致力開發最符合世界潮流及最新評價標準的各式粉體分析裝置及尖端粉體材料，期望帶 ...
