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雷射繞射粒徑分佈分析儀知識摘要

(共計:20)
  • 國家度量衡標準實驗室::校正能量與收費
    聲量標準 【A01】標準麥克風互換校正系統 【A02】標準麥克風比較校正系統 【A03】聲音校正器校正系統 電磁標準 【B01】核磁共振磁通密度量測系統 【B02】磁通量測系統 【B03】低磁場量測系統

  • 山崩與土石流專題
    圖二、土石流之臨界降雨線(詹,1998) 當場降雨量是土石流之激發動力,前期降雨量則是土石流形成之潛在因素。前期降雨量的多寡,影響堆積物質的含水狀況,進而影響激發土石流所需之降雨量的多寡。

  • 光學鏡組、工業光學鏡組 - 顯微鏡
    高分辨率CCD鏡頭 CCTV 各式濾片鏡 無失真4000萬像素 廣角同軸照明裝置 廣角180 魚眼鏡頭 針孔攝影機系列 電動變焦鏡頭 Opto Engineering 雙遠心鏡頭 矩陣檢測器雙遠心 ...

  • AOI自動光學檢測、自動光學檢測設備、AOI檢測、自動光學檢查
    提供各種AOI,自動光學檢測,AOI自動光學檢測,AOI設備,自動光學檢測設備,自動光學檢測,自動光學檢測機,自動光學檢查,AOI檢測,AOI檢測設備,機械視覺,COF,FPC連接器,ITO自動檢測,零件共平面,模具監視器,溢錫自動檢測,連接器自動檢測,線掃描檢測,不織布檢測,瓶胚 ...

  • 粒度分析檢測、粒度分析量測、微米/奈米粒度分析-北科大奈米中心
    ... 界面電位分析儀,為產、研、學界在粉體材料研發、製程及品管上提供了最正確及快速的分析利器。 粒徑分析儀以最寬廣的測量範圍及最高精確度± 0.6% 、可適用高濃度 ppm~40wt% 等齊全機種。 ‧Mie 散射原理

  • Horiba 雷射粒徑分析儀LA-300 Laser Particle Size Analyzer -
    LA-300雷射光散射式粒徑分佈分析儀結合了HORIBA所保證的高準確度、寬廣的測量 ... 測量原理. Mie散射原理. 測量粒徑範圍. 0.1~600um. 測量時間. 約20秒(從開始 ...

  • 科技部- 科技大觀園>文章>科普知識>觀微知著的「粒徑分析」
    它的原理簡單、操作容易,不僅能測定粒子的大小,還可以分析粒徑的分布情形。 ... 避免前述各種量測方法的缺點,德國在2003 年研發出新型的粒徑分析儀。它利用 ...

  • 雷射粒徑分析儀Laser Diffraction Particle Size Analyzer
    雷射粒徑分析儀. Laser Diffraction Particle Size Analyzer. 儀器設備說明:. 儀器價格 :1,837,775 元. 儀器購置年月:1995 年4 月. 廠牌及型號:Coulter LS230.

  • 粒徑 - DKSH 台灣
    產品描述 Spraytec 為高濃度噴霧液滴及氣膠微粒粒徑量測設計之即時監控設備, Spraytec是使用符合ISO13320之雷射光繞射原理量測0.1–2000 microns微米粒徑,並具備各級防塵,防水,防爆等嚴苛操作環境需求,提供您產品研發,品質管理及更進一步的成為您系統最適化 ...

  • 粉體粒徑量測
    拍攝得奈米粉體照片後,經人工或電腦影像分析,可計算出粉體的平均粒徑及分布。 X 光繞射儀. 奈米粉體表面的晶體結構較 ...

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