閎康科技股份有限公司 > 白光干涉儀(OP) 白光干涉儀(OP) 技術原理 光學干涉形貌儀可量測材料表面形貌和高低落差，其量測機制為利用掃描式白光干涉，進行三維立體形貌 ... 軟性印刷電路板之金手指發光二 極體晶粒上金屬電極 薄膜電晶體面板之光阻間隙(Photo spacer)之線上檢測
雷射元素光譜分析儀（LIBS）是什麼 | 雷射元素光譜分析儀-LIBS 雷射元素光譜分析儀（LIBS） 雷射元素光譜分析儀（LIBS – Laser-Induced Breakdown Spectroscopy）是一種利用雷射剝蝕（Ablation）微量樣本並產生電漿，再利用電漿光譜進行化學元素定性/定量分析的儀器。受測樣本可以是固體、液體或氣體的形式。
光譜分析儀簡介 瞭解光譜分析儀的構造及原理，並檢測金屬塊材(Bulk)樣品的化學組成(Chemical Composition)，藉由取得成分元素濃度 ...
元素分析儀 元素分析儀為化學成份分析不可或缺的分析工 具，廣用於學術界及工業界，可用於純物質或混合 物之分析，以確知其所含元素之重量百分比。 定量分析原理是將欲分析之物質在氧化銅等氧 化催化劑存在下利用氧氣將其完全燃燒，轉變成二
元素分析儀 元素分析儀為化學成份分析不可或缺的分析工 具，廣用於學術界及工業界，可用於純物質之分析，以確知其所含元素之重量百分比。 定量分析原理是將欲分析之物質在氧化銅等氧 化催化劑存在下利用氧氣將其完全燃燒，轉變成 ...
廢棄物中碳、氫、硫、氧、氮元素含量檢測方法－元素分析儀法(NIEA R409.21C) 廢棄物中碳、氫、硫、氧、氮元素含量檢測方法－元素分析儀法 中華民國93年11月19日環署檢字第0930084869C號公告 自中華民國94年2月15日起實施 NIEA R409.21C::: 一、方法概要 以元素分析儀，利用可燃性元素燃燒產生氧化性氣體之特性，經吸附、脫附 ...
全球無鹵素(Halogen Free)的趨勢及最新的檢測技術-利用X光螢光光譜儀原理(X-ray Fluorescent Analyzer, XRF,ED-XRF)及離子 ... X-光螢光分析儀 (X-ray Fluorescence Spectrometer, XRF )係利用X-光束照射試片以激發試片中的元素，當原子自激發態回到基態時，偵測所釋放出來的螢光，經由分光儀分析其能量與強度後，可提供試片中組成元素的種類與含量，具有快速、非接觸、非破壞性及多元 ...
閎康科技股份有限公司 > X光光電子能譜儀 (XPS/ESCA) X光光電子能譜儀 (XPS/ESCA) 技術原理 材料經由帶有能量的X光照射後形成光電效應，將內層軌域的電子激發產生光電子，只有在樣品表面所產生的光電子才能脫逸出而被測得，此被激發的光電子經偵檢器分析後，可測得光電子束縛能的能譜，由於不同元素 ...
XRF檢測,測厚儀,膜厚-鑫紳股份有限公司 最新產品 X-Strata 920 桌上型X射線膜厚儀 X-Strata 980 X-Ray膜厚測定儀 X-MET 7000/7500 手持式XRF元素分析儀 X-Strata 980 X-RAY X射線膜厚及元素分析量測儀 CM 95 掌上型銅箔基板測厚器 CMI 150/250 掌上型塗(鍍)層測厚儀 最新新聞
HPLC的原理及分析純化 - Yahoo!奇摩知識+ 不管在哪裡搜尋的資料 大部分都會說 HPLC是做分析物質及純化的儀器或方法 我目前只知道為什麼 移動相通過固定相會先後出現的UV檢測 我的疑問是 為什麼HPLC能夠純化? 怎麼純化? 原理是什麼?
