閎康科技股份有限公司 > X光光電子能譜儀 (XPS/ESCA)

X光光電子能譜儀 (XPS/ESCA) 技術原理 材料經由帶有能量的X光照射後形成光電效應，將內層軌域的電子激發產生光電子，只有在樣品表面所產生的光電子才能脫逸出而被測得，此被激發的光電子經偵檢器分析後，可測得光電子束縛能的能譜，由於不同元素 ...

www.ma-tek.com