材料世界網 - 文章內容 薄膜熱傳導特性應用分析技術介紹 2008/8/28 [ 友 善 列 印 | 推 薦 好 友 ] 在可預見的未來，熱管理將是產業界一項待突破的關鍵技術。此技術包含材料開發以及相關分析技術，其中薄膜的熱傳導分析技術算是重要的關鍵技術之一。
光學薄膜之原理與應用 - 國研院儀科中心 光學薄膜之原理與應用 自然界中，存在著許許多多的光學薄膜，幾乎所有的光學薄膜特性都是基於薄膜內的 干涉效應，例如肥皂泡沫與水面上油污層的顏色隨著薄膜厚度及觀察角度而變化， 皆可歸納為單層膜光干涉效應的現象。
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檢測設備 自動光學檢測 綜合頁 應用：AOI設備 / 光學檢測設備 / CCD檢測設備 / 外觀檢測設備 / 客製化檢測設備 / 自動檢測機 / 自動化檢測設備 / 瑕疵檢測設備 / LCD檢測設備 / P to P檢測設備 利用機械視覺的方式檢查素玻璃基板的板邊內部與表面上之缺陷，基於高速與
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橢圓偏光儀之原理與應用 - 國研院儀科中心 - 國家實驗研究院 2007年5月7日 - 橢圓偏光術是一種非接觸式、非破壞性、以光學技術量測薄膜表面特性的方法。其量測原理係運用光在兩層薄膜間的介面或薄膜中發生的現象及其 ...
衰減式全反射方式量測光學薄膜 - 國立嘉義大學應用物理學系 衰減式全反射方式量測光學薄膜. 嘉義大學應用物理系. 羅光耀. 中華民國九十五年九月. 前言. 介紹表面電漿的原理與機制，透過此方式來量測金屬薄膜的介電係數與膜 ...
基本光學原理與光學系統 基本光學原理與光學系統. 1.基本光學. 2.光的波動性. 3 偏振光學. 3.偏振光學. Precision Metrology Lab. AOI Lecture ...
原理說明膜厚計原理 2012年9月24日 - 一、 膜厚計可分為破壞式及非破壞式兩種。依其樣品不同有如下四種: 1.底材為磁性金屬, ...
==宏明科技==NIR近紅外光穿透率/反射率光譜儀,薄膜厚度儀, solar cell efficiency, IPCE, EQE, IQE, Micro-Crack, 日光模擬 ... 238 新北市樹林區中山路一段390號 Tel ：(02) 8675-1543 Fax：(02) 8675-1545 e-mail：info@hmtech.com.tw 版權所有 © 2006 Hong-Ming Technology Co., Ltd.
