衰減式全反射方式量測光學薄膜 - 國立嘉義大學應用物理學系

衰減式全反射方式量測光學薄膜. 嘉義大學應用物理系. 羅光耀. 中華民國九十五年九月. 前言. 介紹表面電漿的原理與機制，透過此方式來量測金屬薄膜的介電係數與膜 ...

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