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特性阻抗匹配/控制訊號衰減雙管齊下 維持高頻訊號傳輸品質 - 技術前瞻 - 新通訊元件雜誌 特性阻抗匹配/控制訊號衰減雙管齊下 維持高頻訊號傳輸品質 新通訊 2006 年 12 月號 70 期《 技術前瞻 》 文．陳乃塘 資料傳輸一定會繼續邁向高速化，而高速訊號傳輸要面臨的問題與解決方式卻不同於以往。
台灣雷射產業大躍進 飛秒雷射創新技術出爐 - 懂市場 - 新電子科技雜誌 飛秒雷射創新應用 打進利基市場 鄭中緯近一步解釋，飛秒雷射可在玻璃材料上加工，在玻璃表面上做出流道，進一步應用在生物晶片，年底也將會展出與國內中正大學、交通大學、虎尾科技大學等五校合作成果，展示 ...
高速PCB 仿真技術運用於28nm FPGA 系統設計技術分析 - Terasic 2011年3月4日 ... 現今全球在10Gb/s 速度以上之高端多層PCB 設計案例，由於涉及許多高速電路分析 理論及仿真技術經驗， ...
信號完整度設計及電磁模擬技術 (Signal Integrity and EM Simulation) 信號完整度設計及電磁模擬技術 (Signal Integrity and EM Simulation) 為了滿足消費者的各式需求，電子產品的功能日趨複雜，導致積體電路的時 脈不斷拉高以達到更佳效能外，整合不同功能的積體電路於同一電子系統內，也
希子部落格(Seize Blog) » 依98課綱整理的「電子學暨電子學實習I,II」內容綱要暨歷屆試題解析 希子者，站長也，亦為Seize(理解)之諧音，「理解知識」之意。http://songwriter.tw/blog ... I do trust all of the concepts you have introduced on your post. They’re very convincing and can certainly work. Still, the posts are too brief for novices.
閎康科技股份有限公司 > Thermal Emission Microscope Thermal Emission Microscope 技術原理 THEMOS mini 為簡易, 節省空間之最新電性故障定位設備, 可直接並快速地透過 IC 正面及背面來找出缺陷所在位置. 更可在 IC 未開蓋狀態下先定位出失效點為 IC 本身或封裝問題. 其主要原理乃利用高靈敏度之 InSb detector 偵 ...
閎康科技股份有限公司 > C-AFM - Materials Analysis Technology Inc. C-AFM從字面上來看，與原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱 AFM）的原理其實類似，而 AFM 的原理為利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針和原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的解析度。
LIN-PCB LAYOUT-REPORT -0612 - search read.pudn.com X2 14 16. CPU Î RAMÎFLASH z CPU到RAM的走線方式(2種方式): 需依循硬體工程師的需求走綫 1. ... 打via至power plane,這樣做, ...
從微米走向奈米 半導體製程推進難關不斷 - 學技術 - 新電子科技雜誌 根據新修訂ITRS(International Technology Roadmap for Semiconductors)技術藍圖，清楚地指出目前半導體製程技術，已經從早期微米以上製程不斷地微縮，經過0.1微米以下，進入到「奈米」世代... 根據新修訂ITRS(International Technology Roadmap for
