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半導體參數分析儀知識摘要

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    IP ( INTERNATIONALPROTECTION )防護等級系統是由 IEC ( INTERNATIONALELECTROTECHNICAL COMMISSION )所起草。將電器依其防塵防濕氣之特性加以分級。這里所指的外物含工具,人的手指等均不可接觸到電器內之帶電部分,以免觸電。

  • 白安鵬--半導體積體電路測試技術部落格
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  • Keithley Instruments Inc. - 產品介紹
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  • 半導體科技.先進封裝與測試雜誌 - 光譜量測範圍對光學臨界尺寸分析的準確性與重現性之影響 - Semicondutor Magazine
    量測系統 N & K Olympian 是一個完全自動化的光學量測系統,針對薄膜和光學臨界尺寸( OCD 或 “ 散射 ” )使用寬頻偏振光反射測量。數據從深紫外線到近紅外波長,此外還有一個單獨的光學系統可量測波長至 15,000 nm 紅外波長。

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    歡迎各位來到國立清華大學工科所矽半導體實驗室的首頁。 目前本研究團隊包含博士生5名,碩士生18名。 學生依專長分為四組,包含矽半導體元件製程組、元件可靠性量測組、先進元件模擬組,FLASH記憶體開發組等等。

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