X射線繞射分析儀(X-Ray Diffractometer，簡稱XRD)：

光譜線的強度，大致與各成分的含量成正比。因此，X-射線粉末繞射光譜也可以作各結晶成分的定量分析；不過精確度不高。 測量結晶度的方法計算：. Xc=Wc/(Wc+Wa).

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