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X射線繞射分析儀(X-Ray Diffractometer,簡稱XRD):

測量 結晶度的方法 計算 : Xc=Wc/(Wc+Wa) Xc: 結晶度 Wc:高分子 結晶部份的重量 Wa:高分子amorphous 的重量 ...

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