Uv-Vis-Ir光反射膜厚測試儀 - 膜厚儀/橢偏儀/真空鍍膜/蝕刻 - 先鋒科技

膜厚量測,非接觸式膜厚量測,薄膜厚度量測 ... 波長範圍：200 – 8000 nm 可選 可測膜厚：1 nm ~ 1 mm 可測光學常數 精確度：0.1nm or 0.2% 重覆性：0.01nm or 0.1%

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