NAND FLASH ECC原理 詳細» NAND FALSH 數據校驗與糾錯 1 概述 由於NAND FLASH 工藝不能保證NAND 在其生命週期中保持性能的可靠, 因此在 NAND 的生成及使用過程中會不可避免的產生壞塊。為了檢測數據的可 靠性,在應用NAND FLASH 的系統中應 ...
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