前言 由於IGBT在功率半導體的市場日趨重要,使用新的測試方法來測試產品特性及生產是必須的。在此介紹的模組化測試系統是瞄準功率電晶體的靜態及動態量測,討論的是IGBT設計者或是此類設備採購者最關切的需求。
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