FT-IR 快速分析鑑定技術 儀器及應用介紹

台灣耶拿器有限公司 7 analytikjena analytical solutions 樣品容易接觸晶片, 取樣容易 樣品接觸面積小, 單點接觸壓力較高, 不易產生樣品空隙, 訊號較佳 單點ATR 晶片不易造成光耗散現象 可分析硬材固體, 軟材固體, 片狀或薄膜, 膠體及液態樣品, 以及粉末樣品…

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