CTimes - 積體化探針卡技術介紹: - Probe card,測試系統與研發工具

Probe Card for IC Testing 探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前， 對裸晶以探針（probe） ... 這類探針卡的製作流程如(圖四)所示，首先依據廠商提供之 pad assignment設計Mylar鑽孔的位置及 ...

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