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CTIMES- 積體化探針卡技術介紹 :Probe card,測試系統與研發工具
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CTIMES- 積體化探針卡技術介紹 :Probe card,測試系統與研發工具
探針卡( probe card)是應用在積體電路(IC)尚未封裝前,對裸晶以探針( probe ...
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