Alpha-SE 非破壞性薄膜厚度量測儀 - 膜厚儀/橢偏儀/真空鍍膜/蝕刻 - 先鋒科技

Alpha-SE非破壞性薄膜厚度量測儀是JAW橢圓儀應用量測中,設計用來快速量測一般薄膜材料的簡易橢圓儀,提供波長380-900nm,並有65度/70度/75度/90度的量測角度可調,單點量測最 ...

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