Agilent 4070參數測試系統獲力晶採用

安捷倫表示，Agilent 4070系列高精密參數測試系統已獲力晶半導體12M新廠採用，主要用來執行產品的晶圓參數測試(Wafer Acceptance Test，WAT)。Agilent 4070是一套 ...

www.eettaiwan.com