電子元器件規格書網 (簡體版) 電子圈微報 (簡體版) 首頁 現在登錄 免費註冊 2014年02月05日 高級搜索 新聞 新品 技術文庫 應用實例 ... 而掃描、AC掃描、邏輯內建自測試(LBIST)和記憶體BIST這類結構測試方法,已經為理解設計規格 ...
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