閎康科技股份有限公司 > C-AFM - Materials Analysis Technology Inc.

C-AFM從字面上來看，與原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱 AFM）的原理其實類似，而 AFM 的原理為利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針和原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的解析度。

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