解析型掃描穿透式電子顯微鏡

解析型掃描穿透式電子顯微鏡. 適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料。以300KV高能量電子穿透試片，可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析 ...

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