膜厚光譜分析儀系統 MCPD series - 光干涉法、波峰波谷法/非接觸式膜厚計 - 大塚科技股份有限公司

最適用於各種機能性材料（薄膜、玻璃、樹脂）膜厚量測的光譜儀系統 ... 半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜） 光阻剝離液厚度、濕狀薄膜 塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、壓克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）

www.otsuka-tw.com