統計式掌上型膜厚計 - 東延機械網

日本KETT 掌上型膜厚計LZ-990. 測量方式. 電磁／渦電流兩用式. 測量對象. 磁性金屬上非磁性被膜及非磁性金屬上絕緣被膜. 測量範圍. 0～2,000μm或0～80.0mils.

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