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突破驗證/測試瓶頸 低功耗晶片設計創新局 - 懂市場 - 新電子科技雜誌
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突破驗證/測試瓶頸 低功耗晶片設計創新局 - 懂市場 - 新電子科技雜誌
終端產品對節能的殷切需求,促使IC 設計業者必須自系統層級開始,將功耗問題納入考量。而隨著CPF標準規格的問世 ...
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