白安鵬--半導體積體電路測試技術部落格: A 半導體積體電路測試概論 第三章 開路與短路測試

第三章 開路與短路測試 開路與短路測試(Open/Short test)，也稱為連續性測試(Continuity test)或稱連接測試(Contact test)。此測試項目的主要目的，是要確認所有待測物的接腳，是否正確地連接到IC內部電路。並確認沒有任何的接腳，與其它的接腳短路，或 ...

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