材料世界網:次十奈米光學顯微鏡的發展及應用

1984年因SPM技術的提升，而發展出掃描 近場光學顯微鏡。 SNOM 技術中的孔洞是指金屬包覆極細光纖的尾端開口，其 ...

www.materialsnet.com.tw