散射式掃描近場光學顯微鏡－次十奈 米級光學檢測

1984 年才因SPM 技術的提升(5)，而發展出掃描近 場光學顯微鏡。SNOM 技術中的孔洞是指金屬外 包覆極細光纖的尾端開口，其孔徑小於入射光波 長。將光纖出口靠近樣品表面(5－50 nm) 時，利 用透過光纖孔徑照射或收集漸逝波(evanescent ...

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