掃描式穿隧電子顯微鏡 - 維基百科，自由的百科全書

掃描式穿隧電子顯微鏡（英語:scanning tunneling microscope，縮寫為STM），是一種利用量子理論中的穿隧效應探測物質表面結構的儀器。它於1981年由格爾德·賓寧及海因里希·羅雷爾在IBM位於瑞士蘇黎世的蘇黎世實驗室發明，兩位發明者因此與恩斯特·魯斯卡 ...

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