成大研發快訊 - 文摘【第五卷 第十期】

1.緒論 掃描式近場光學顯微鏡(SNOM)為現今主要量測低於波長二分之ㄧ解析度之儀器，它是利用尖端極細的光纖探針(孔徑一般約50 nm)，外圍包覆著金屬膜將光限制在探針開孔附近，利用精密控制技術使探針在量測表面數十奈米處震盪，由於在一個波長 ...

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