壹、發明（或新型）專利侵害之鑑定原則

第一章 適用範圍 本發明（包含新型，以下同）專利侵害鑑定原則僅供法院或侵害專利鑑定專業機構等參考，而非用來拘束上述機關或機構。 第二章 鑑定流程 第一節 鑑定流程概述 一、專利侵害之鑑定流程分為兩階段：

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