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增量式光學線性和旋轉光學尺現在具有1 nm的解析度和超低位置雜訊
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增量式光學線性和旋轉光學尺現在具有1 nm的解析度和超低位置雜訊
位居 光學尺技術領導地位的Renishaw公司,正式推出其成功的TONiC增量式 光學尺系列的1nm和2nm 解析度版本。新型的高 ...
www.renishaw.com.tw
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