關鍵詞：場發射式掃瞄式電子顯微鏡、 FESEM 、材料微結構分析. SEM 之發展與工作 原理. 電子顯微鏡的發展，最早在1931 年首. 先發展穿透式電子顯微鏡(TEM;.
eportfolio.lib.ksu.edu.tw
提供